目前根據(jù)大數(shù)據(jù)分析來看，X射線衍射技術(shù)在應(yīng)力無損測試中應(yīng)用范圍最為廣泛。也是最普遍高效的一種
應(yīng)力無損測試方法，X射線衍射技術(shù)是指通過對材料進(jìn)行X射線衍射，也被稱為X-ray diffraction，XRD，人們通過對其衍射圖譜的分析，來獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子（或分子）的結(jié)構(gòu)以及形態(tài)等多方面信息的一種研究手段。他的工作原理就是把單色的X射線投射到晶體樣品（物體材料）上，如果其中一個晶粒的一組晶面取向和入射X射線夾角為θ時，則滿足衍射條件，并且在
衍射角2θ處產(chǎn)生衍射，樣品中有多個晶粒并滿足衍射。通過使用X射線衍射儀的探測器以一定的
角度繞樣品旋轉(zhuǎn)，接收到粉晶中不同網(wǎng)面、不同取向的全部衍射線，獲得相應(yīng)的衍射圖譜。
X射線衍射技術(shù)應(yīng)用：
（1）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各
結(jié)晶相的比例。
（2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。
（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開
發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標(biāo)。
（4）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可
以快捷測定微觀應(yīng)力。
（5）納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用
X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。
